應(yīng)用于液晶面板模組段制程的點(diǎn)燈質(zhì)量檢測(cè)，可以實(shí)現(xiàn)模組屏點(diǎn)燈、OPT、Flick、AOI、外觀檢查等電測(cè)不良的光學(xué)檢測(cè)，并針對(duì)模組產(chǎn)品的閃爍度、色度、亮度測(cè)量、點(diǎn)缺、線缺、像素、Mura、影像、元器件丟失、外觀污漬、破損、黑膠異常等缺陷進(jìn)行全自動(dòng)分類檢測(cè)。實(shí)現(xiàn)進(jìn)口設(shè)備的替代，大幅提升制造業(yè)裝備技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)力。